半導体・液晶用露光装置の技術及びそれらの効率的運用方法や自動フィードバックシステムに関しお話できます

エキスパート

氏名:開示前


有機ELや液晶パネルのフォトプロセスにおいてパターンの重ね合わせ精度は最も重要なファクターです。精度を維持するために露光装置と重ね合わせ計測器をネットワークで結び、それらを専用のコンピュータで管理します。計測結果をフィードバックしますが、専用コンピュータに組み込まれるアライメント補正アルゴリズムは線形補正のみでした。私はここに非線形アルゴリズムをマップ補正アルゴリズムを開発して組み込みました。
これにより、重ね精度が飛躍的に向上し、高精細なパネルの生産を可能にしました。
またこのシステムによりフォト現場の担当者の負担を大幅に減らし、省力化に寄与しました。

■その他
地域: 日本及び韓国
役割: 開発マネジメント及び生産技術プロジェクトリーダー
規模: 露光装置会社6000人、有機ELパネル会社30000人

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氏名:開示前

1984年~2014年まで精密機械メーカで約30年間半導体や液晶・有機EL用露光装置の開発を担当しました。主に装置全体を動かすソフトウェアの開発、アライメントアルゴリズムの開発、自動化システムの開発、各種解析ソフト開発、およびユーザアプリケーションの開発を行いました。
2014年~2018年はディスプレイメーカで、露光装置を用いたフォトプロセスの生産性向上や精度向上、および計測器と統合した自動露光システムの開発を行いました。
2019年からは技術コンサルタントとして精密機械関連のコンサルタントを行っています。2021年10月からプラント系企業でISO関連の業務を担当しています。技術コンサルタントは継続しています。


職歴

職歴:開示前


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