半導体マスクブランクスの検査技術について話せます

エキスパート

氏名:開示前


■背景
半導体分野ではナノオーダーの設計が必要なので、品質保証に絡む検査計測技術についても高精度化が求められます。また、欠陥と呼ばれるゴミの個数や位置管理も重要なので、それらを管理するプロセス開発も重要です。

■話せること
メジャーな検査機の推移の歴史
特徴的な欠陥管理手法
平坦度計測技術

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職歴

職歴:開示前

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¥80,000 / 1時間
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