半導体の検査/計測技術について話せます

エキスパート

氏名:開示前


■背景
1994年よりCD-SEMを中心とした計測技術にかかわる仕事を行っており、半導体業界の検査/計測技術になじみが深い

■話せること
半導体業界の検査/計測技術のトレンドなど

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職歴

職歴:開示前

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