電子部品や半導体の故障解析技術について話せます

エキスパート

氏名:開示前


■背景
2000年に社会問題化した富士通HDD問題の故障解析を担当。

■話せること
2000年ぐらいに発生した、半導体の産業構造の変化に伴う「半導体の信頼性危機」はどうして起こったのか。また、新しい故障解析技術はどのようにして短期間のうちに開発できたのか。車内横断問題解決チームの発足と運営など、技術経営(MOT)の視点も含めて系統立ててお話しできます。

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氏名:開示前

株式会社アドバンテスト(半導体試験装置大手)にて、通算40年ほど装置開発、新事業開発、品質保証に携わってきました。

<開発技術者>
 新しいアーキティクチャの半導体試験装置やレーザ加工装置(10年)
<新事業開発>
 米社とレーザ加工装置の共同開発などを経験(10年)。
<品質保証:10年>
 責任者として、海外製半導体の品質保証体制構築を経験、特に、間欠性の不安定な不良や解決困難で長期化している不良に対して、故障解析技術を使って問題解決。原因究明後は、現実的な問題解決のために国内外の企業と対外交渉を担当しました。

 2017年に東京理科大大学院で研究を進め修了。技術経営修士(MOT:Master of Management of Technology)


職歴

職歴:開示前


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