TEM, SEM, XRDを用いた評価手法について話せます

エキスパート

氏名:開示前


■背景
富士電機在籍時には、TEMとXRDを用いた薄膜の解析を行なっていました。
また、成膜プロセスと微細構造の関係性も調査していました。

現職では、粉末と焼結体の評価手法として、SEMとXRDを使用しています。

■話せること
薄膜、粉末、焼結体に関する微細構造解析において
SEM, TEM, XRDを用いた解析法とデータの解釈に関して話せます。

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氏名:開示前

・TEMおよびXRDを用いた金属薄膜の評価。
・金属薄膜の成膜プロセス開発
・貴金属、非磁性・磁性材料のスパッタリングターゲット開発


職歴

職歴:開示前


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