高周波のプローバ測定について話せます
■背景
電子部品のサイズは年々サイズダウンを市場から求められている。その要求から部品内の加工部も微小加工を行う傾向である。
同業製品や、自社製品の部分部分の高周波特性を確認するのにはプローバによる測定が有用である
■話せること
同業製品の局所的な特性把握するための提案を行った。
■背景
電子部品のサイズは年々サイズダウンを市場から求められている。その要求から部品内の加工部も微小加工を行う傾向である。
同業製品や、自社製品の部分部分の高周波特性を確認するのにはプローバによる測定が有用である
■話せること
同業製品の局所的な特性把握するための提案を行った。